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高溫介電溫譜測(cè)試儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測(cè)試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。

高溫介電溫譜測(cè)試儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測(cè)試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。

GWGY-1000W型高溫高壓介電常數(shù)測(cè)試儀是一款區(qū)別目前市場上高溫介電測(cè)試儀，也是研究材料介電性能的新領(lǐng)域，采用全新技術(shù)，打破了之前的只能在變溫下的頻率下測(cè)試，該設(shè)備能夠在對(duì)樣品進(jìn)行高溫測(cè)試的同時(shí)，給樣品加高壓，最高可達(dá)5000V直流高壓，更加直觀的看到樣品在外加高壓的條件下，內(nèi)部相關(guān)的性質(zhì)變化，很多關(guān)于薄膜和壓電陶瓷樣品，是在外加高壓條件下，性能會(huì)出現(xiàn)比較大的

主要功能： 材料介電常數(shù)測(cè)試儀 半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性 性能特點(diǎn): 溫度：RT-1000℃ 測(cè)試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz 基本精度: 0.05% 測(cè)試速度:最快5. 6ms/次 測(cè)試原理:自動(dòng)平衡電橋 高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測(cè)試量程配置 高分辨: 7英寸, 800X600

隨著固體粉末在化工、航天、醫(yī)藥、食品、塑料制品等行業(yè)越來越廣泛的應(yīng)用，必然需要更多、更精確的以工藝過程控制、產(chǎn)品混合均勻度測(cè)試、物料含量檢測(cè)等為目的的儀器，以期優(yōu)化產(chǎn)品的過程控制、提高產(chǎn)品質(zhì)量，F(xiàn)WJD-600型粉末高溫介電溫譜儀是一款新型的高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)，

GWJDN-800型四通道高低溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng)，性能*，*科研級(jí)別的精密測(cè)試裝置，是國家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。